0
0
836
Быстрые алгоритмы тестирования высоконадежных нейросетевых механизмов биометрико-криптографической защиты информации
Авторы:
Малыгин Александр Юрьевич
Волчихин Владимир Иванович
Иванов Александр Иванович
Фунтиков Вячеслав Александрович
Волчихин Владимир Иванович
Иванов Александр Иванович
Фунтиков Вячеслав Александрович
Год:
2006
Язык:
Русский
Описание:
Малыгин А. Ю., Александр Юрьевич, Волчихин В. И., Владимир Иванович, Иванов А. И., Александр Иванович, Фунтиков В. А., Вячеслав Александрович Быстрые алгоритмы тестирования высоконадежных нейросетевых механизмов биометрико-криптографической защиты информации / [А.Ю. Малыгин, к.т.н., полк., В.И. Волчихин, д.т.н., проф., чл.-корр. Рос. акад. ракет. артиллер. наук, д.чл. Междунар. акад. информатизации, А.И. Иванов, д.т.н., В.А. Фунтиков, к.т.н.]. - Пенза : Изд-во Пензенского государственного университета, 2006. - 158,[1] с. : ил. ; 20 см. - Библиогр.: с. 149-154 (57 назв.)
Рейтинг по отзывам:
4.5
Материалы:
Рубрики:
Биометрия
Примечания:
Библиогр.: с. 149-154 (57 назв.)
Дата создания:
2021-10-03 18:58:09
Соц. сети:
Важно
Пожалуйста, помогите актуализировать информацию
Загрузить фотографию актуальной обложки книги
Дополнить или обновить информацию о книге
