Измерение толщин тонкослойных сцинтилляторов CsI (Tl)
1419
Краткое содержание:
Экранизация книги

Измерение толщин тонкослойных сцинтилляторов CsI (Tl)

Авторы:
Авдеев С. П.
Карнаухов Виктор Александрович
Кузнецов В. Д.
Год:
2001
Язык:
Русский
Страниц:
10
Заглавие серии:
Препринт / Объед. ин-т ядер. исслед. ; Р13-2001-9
Описание:
Авдеев С. П., Карнаухов В. А., Виктор Александрович, Кузнецов В. Д. Измерение толщин тонкослойных сцинтилляторов CsI (Tl) / С.П. Авдеев, В.А. Карнаухов, В.Д. Кузнецов и др. - Дубна : ОИЯИ, 2001. - 10 с., включая обл. : ил. ; 22 см. - (Препринт / Объед. ин-т ядер. исслед. ; Р13-2001-9). - Библиогр.: с. 10
Рейтинг по отзывам:
4.5
Рубрики:
Поликристаллические сцинтилляторы → Толщина → Измерение
Примечания:
Библиогр.: с. 10
ББК:
22.38
Дата создания:
2021-09-04 06:10:16
Соц. сети:
Помогите сайту стать лучше, ответьте на несколько вопросов про книгу:
Измерение толщин тонкослойных сцинтилляторов CsI (Tl)
Она является известной среди большинства?
Да.
Нет.
Возможно.
Не знаю

Мойка листов, чистка, отбеливание, устранение заломов, восстановление разрывов, следов от влаги, травление насекомых, реставрация обложки и корешка, устранение укусов от собак и восстановление заломов на картоне, восстановление после падений, восстановление тиснения и рисунков, художественная покраска всех элементов обложки от мастеров Ленинской библиотеки. Мелкий ремонт (удаление пятен, плесени) или реставрацию обложки, уголков, корешка, листов, переплета книги

Показать контакты
Объявление о покупке (разыскивается книга)
Объявление о продаже
Принимаются только объявления о покупке книги.
Внимание, объявления модерируются администрацией.
Принимаются только объявление о продаже книги.
Внимание, объявления модерируются администрацией.
Егор Петров
Измерение толщин тонкослойных сцинтилляторов CsI (Tl) и ТSI (TSI) вокруг сердечного круга равно 1029.
Прикрепить файл
Похожие книги
Азат Нагирян
Измерение толщин тонкослойных сцинтилляторов CsI (Tl) методом спектрометрии с дифракцией рентгеновских лучей на монокристаллах с учетом фактора отражения / О. [Текст] // Оптика и спектроскопия. - 2008. - Т.130, N 1. - С. 101-105. - ISSN 0030-4034 . - Библиогр.: с. 105 (7 назв. ) Исследована зависимость параметров отражения от толщины монокристаллического слоя CsI(Tl), помещенного в вакуумную камеру спектрометра.
Прикрепить файл