Измерение толщин тонкослойных сцинтилляторов CsI (Tl)
1406
Краткое содержание:
Экранизация книги

Измерение толщин тонкослойных сцинтилляторов CsI (Tl)

Авторы:
Авдеев С. П.
Карнаухов Виктор Александрович
Кузнецов В. Д.
Год:
2001
Язык:
Русский
Страниц:
10
Заглавие серии:
Препринт / Объед. ин-т ядер. исслед. ; Р13-2001-9
Описание:
Авдеев С. П., Карнаухов В. А., Виктор Александрович, Кузнецов В. Д. Измерение толщин тонкослойных сцинтилляторов CsI (Tl) / С.П. Авдеев, В.А. Карнаухов, В.Д. Кузнецов и др. - Дубна : ОИЯИ, 2001. - 10 с., включая обл. : ил. ; 22 см. - (Препринт / Объед. ин-т ядер. исслед. ; Р13-2001-9). - Библиогр.: с. 10
Рейтинг по отзывам:
4.5
Рубрики:
Поликристаллические сцинтилляторы → Толщина → Измерение
Примечания:
Библиогр.: с. 10
ББК:
22.38
Дата создания:
2021-09-04 06:10:16
Соц. сети:
Помогите сайту стать лучше, ответьте на несколько вопросов про книгу:
Измерение толщин тонкослойных сцинтилляторов CsI (Tl)
Есть ли иллюстрации в этой книге?
Да.
Нет.
Возможно.
Не знаю

Мойка листов, чистка, отбеливание, устранение заломов, восстановление разрывов, следов от влаги, травление насекомых, реставрация обложки и корешка, устранение укусов от собак и восстановление заломов на картоне, восстановление после падений, восстановление тиснения и рисунков, художественная покраска всех элементов обложки от мастеров Ленинской библиотеки. Мелкий ремонт (удаление пятен, плесени) или реставрацию обложки, уголков, корешка, листов, переплета книги

Показать контакты
Объявление о покупке (разыскивается книга)
Объявление о продаже
Принимаются только объявления о покупке книги.
Внимание, объявления модерируются администрацией.
Принимаются только объявление о продаже книги.
Внимание, объявления модерируются администрацией.
Егор Петров
Измерение толщин тонкослойных сцинтилляторов CsI (Tl) и ТSI (TSI) вокруг сердечного круга равно 1029.
Прикрепить файл
Похожие книги
Азат Нагирян
Измерение толщин тонкослойных сцинтилляторов CsI (Tl) методом спектрометрии с дифракцией рентгеновских лучей на монокристаллах с учетом фактора отражения / О. [Текст] // Оптика и спектроскопия. - 2008. - Т.130, N 1. - С. 101-105. - ISSN 0030-4034 . - Библиогр.: с. 105 (7 назв. ) Исследована зависимость параметров отражения от толщины монокристаллического слоя CsI(Tl), помещенного в вакуумную камеру спектрометра.
Прикрепить файл