Microelectronics and reliability : An international journal. Vol.17, №1 : Canadian reliability symposium, 4th Ottawa. 1977
2475
Краткое содержание:
Экранизация книги

Microelectronics and reliability : An international journal. Vol.17, №1 : Canadian reliability symposium, 4th Ottawa. 1977

Год:
1978
Язык:
Английский
Коллекции:
Иностранная периодика
Описание:
Microelectronics and reliability : An international journal. Vol.17, №1: , Canadian reliability symposium, 4th Ottawa. 1977 : Proceedings. - 1978
Рейтинг по отзывам:
4.5
Рубрики:
Дата создания:
2020-06-21 21:12:24
Соц. сети:
Microelectronics Manufacturing Course Final Exam 2019 Review: Reliability
Microelectronics Manufacturing Course Final Exam 2019 Review: Reliability.
CookRIT Cook
Помогите сайту стать лучше, ответьте на несколько вопросов про книгу:
Microelectronics and reliability : An international journal. Vol.17, №1 : Canadian reliability symposium, 4th Ottawa. 1977
была ли экранизация книги?
Да.
Нет.
Возможно.
Не знаю

Мойка листов, чистка, отбеливание, устранение заломов, восстановление разрывов, следов от влаги, травление насекомых, реставрация обложки и корешка, устранение укусов от собак и восстановление заломов на картоне, восстановление после падений, восстановление тиснения и рисунков, художественная покраска всех элементов обложки от мастеров Ленинской библиотеки. Мелкий ремонт (удаление пятен, плесени) или реставрацию обложки, уголков, корешка, листов, переплета книги

Показать контакты
Объявление о покупке (разыскивается книга)
Объявление о продаже
Принимаются только объявления о покупке книги.
Внимание, объявления модерируются администрацией.
Принимаются только объявление о продаже книги.
Внимание, объявления модерируются администрацией.
Stanford Seminar - The future of low power circuits and embedded intelligence
EE380: Computer Systems Colloquium Seminar The future of low power circuits and embedded intelligence: emerging devices and new design paradigms ...
stanfordonline
Modern trends in microelectronics
TowerJazz, the global specialty foundry leader, Igor Sikorsky Kyiv Polytechnic Institute (KPI), and Cadence Design Systems, Inc. collaborate to open a new ...
КПІ ім. Ігоря Сікорського
17. Modules, Systems, and Reliability
MIT 2.627 Fundamentals of Photovoltaics, Fall 2011 View the complete course: http://ocw.mit.edu/2-627F11 Instructor: Tonio Buonassisi This lecture covers ...
MIT OpenCourseWare
Название и адрес
Режим работы
Телефон
Библиотека №18 им. В.А. Жуковского
Москва, Москва, Басманный район
Лялин переулок, 24-26 ст2а
Расположение на карте
санитарный день: последний вт месяца
Вт: 10:00-22:00
Ср: 10:00-22:00
Чт: 10:00-22:00
Пт: 10:00-22:00
Сб: 10:00-22:00
Вс: 10:00-20:00
 +7 (495) 916-35-11 +7 (495) 917-35-20
Показать номер
Название и адрес
Режим работы
Телефон
Городская детская библиотека №3
Московская область, Балашиха городской округ, Балашиха, Балашиха-2 м-н
Спортивная, 17
Расположение на карте
Пн: 11:00-19:00
Вт: 11:00-19:00
Ср: 11:00-19:00
Чт: 11:00-19:00
Пт: 11:00-19:00
Вс: 11:00-18:00
 +7 (495) 523-52-31
Показать номер
Название и адрес
Режим работы
Телефон
Межпоселенческая Централизованная библиотечная система Орловского района, МБУК
Орловская область, Орловский район, д. Образцово
Центральная, 3
Расположение на карте
санитарный день: последний чт месяца
Пн: 10:00-13:00 14:00-18:00
Вт: 10:00-13:00 14:00-18:00
Ср: 10:00-13:00 14:00-18:00
Чт: 10:00-13:00 14:00-18:00
Пт: 10:00-13:00 14:00-18:00
 +7 (4862) 40-55-91
Показать номер
Название и адрес
Режим работы
Телефон
Детская библиотека №3
Архангельская область, Архангельск городской округ, Архангельск, Октябрьский округ
Воскресенская, 85
Расположение на карте
зимний период: пн-пт 11:00-18:00; вс 11:00-17:00; санитарный день: последний чт месяца
Пн: 10:00-17:00
Вт: 10:00-17:00
Ср: 10:00-17:00
Чт: 10:00-17:00
Пт: 10:00-17:00
Вс: 11:00-17:00
 +7 (8182) 65-87-01
Показать номер
Simulation of Reliability and NBTI Aging in MOS Microelectronics
This webinar will cover several of the most prominent reliability models (available in Silvaco's TCAD tools). We will review their basic features and key ...
SilvacoUSA How Chips Age
Circuit aging, whether current methods of predicting reliability are accurate for chips developed at advanced process nodes, and where additional research is ...
Semiconductor Engineering Final exam review 2563: Reliability, Microelectronics Manufacturing course.
Final exam review 2563: Reliability, Microelectronics Manufacturing course.
CookRIT Cook Introduction to Physics of Failure Reliability Methods
Nearly 70% of a product's total cost is determined by its design. That amount of upfront investment requires smart use of resources, like adopting Design for ...
DfRSolutions
Егор Петров
Microelectronics and reliability : An international journal. Vol.17, №1 : Canadian reliability symposium, 4th Ottawa. 1977. Аннотация: В 14-дневном курсе лекций о психогигиене (С. Т.
Прикрепить файл
Похожие книги
Название и адрес
Режим работы
Телефон
Библиотека №18 им. В.А. Жуковского
Москва, Москва, Басманный район
Лялин переулок, 24-26 ст2а
Расположение на карте
санитарный день: последний вт месяца
Вт: 10:00-22:00
Ср: 10:00-22:00
Чт: 10:00-22:00
Пт: 10:00-22:00
Сб: 10:00-22:00
Вс: 10:00-20:00
 +7 (495) 916-35-11 +7 (495) 917-35-20
Показать номер
Название и адрес
Режим работы
Телефон
Городская детская библиотека №3
Московская область, Балашиха городской округ, Балашиха, Балашиха-2 м-н
Спортивная, 17
Расположение на карте
Пн: 11:00-19:00
Вт: 11:00-19:00
Ср: 11:00-19:00
Чт: 11:00-19:00
Пт: 11:00-19:00
Вс: 11:00-18:00
 +7 (495) 523-52-31
Показать номер
Название и адрес
Режим работы
Телефон
Межпоселенческая Централизованная библиотечная система Орловского района, МБУК
Орловская область, Орловский район, д. Образцово
Центральная, 3
Расположение на карте
санитарный день: последний чт месяца
Пн: 10:00-13:00 14:00-18:00
Вт: 10:00-13:00 14:00-18:00
Ср: 10:00-13:00 14:00-18:00
Чт: 10:00-13:00 14:00-18:00
Пт: 10:00-13:00 14:00-18:00
 +7 (4862) 40-55-91
Показать номер
Название и адрес
Режим работы
Телефон
Детская библиотека №3
Архангельская область, Архангельск городской округ, Архангельск, Октябрьский округ
Воскресенская, 85
Расположение на карте
зимний период: пн-пт 11:00-18:00; вс 11:00-17:00; санитарный день: последний чт месяца
Пн: 10:00-17:00
Вт: 10:00-17:00
Ср: 10:00-17:00
Чт: 10:00-17:00
Пт: 10:00-17:00
Вс: 11:00-17:00
 +7 (8182) 65-87-01
Показать номер
Азат Нагирян
Microelectronics and reliability : An international journal. Vol.17, №1 : Canadian reliability symposium, 4th Ottawa. 1977. Аннотация:
Прикрепить файл