Microelectronics and reliability : An international journal. Vol.12, №2
2095
Краткое содержание:
Экранизация книги

Microelectronics and reliability : An international journal. Vol.12, №2

Год:
1973
Язык:
Английский
Коллекции:
Иностранная периодика
Описание:
Microelectronics and reliability : An international journal. Vol.12, №2:. - 1973
Рейтинг по отзывам:
4.5
Рубрики:
Дата создания:
2019-11-11 01:56:57
Соц. сети:
Microelectronics Manufacturing Course Final Exam 2019 Review: Reliability
Microelectronics Manufacturing Course Final Exam 2019 Review: Reliability.
CookRIT Cook
Помогите сайту стать лучше, ответьте на несколько вопросов про книгу:
Microelectronics and reliability : An international journal. Vol.12, №2
Она является известной среди большинства?
Да.
Нет.
Возможно.
Не знаю

Мойка листов, чистка, отбеливание, устранение заломов, восстановление разрывов, следов от влаги, травление насекомых, реставрация обложки и корешка, устранение укусов от собак и восстановление заломов на картоне, восстановление после падений, восстановление тиснения и рисунков, художественная покраска всех элементов обложки от мастеров Ленинской библиотеки. Мелкий ремонт (удаление пятен, плесени) или реставрацию обложки, уголков, корешка, листов, переплета книги

Показать контакты
Объявление о покупке (разыскивается книга)
Объявление о продаже
Принимаются только объявления о покупке книги.
Внимание, объявления модерируются администрацией.
Принимаются только объявление о продаже книги.
Внимание, объявления модерируются администрацией.
17. Modules, Systems, and Reliability
MIT 2.627 Fundamentals of Photovoltaics, Fall 2011 View the complete course: http://ocw.mit.edu/2-627F11 Instructor: Tonio Buonassisi This lecture covers ...
MIT OpenCourseWare
Simulation of Reliability and NBTI Aging in MOS Microelectronics
This webinar will cover several of the most prominent reliability models (available in Silvaco's TCAD tools). We will review their basic features and key ...
SilvacoUSA
Semiconductor testing
From wafer testing, through qualification testing, to the final production test of packaged devices – we provide testing services for analogue, digital, mixed signal ...
MadeByDELTA DELTA
2009 04 27 ECE606 L39 Reliability of MOSFET
CosmoLearning Final exam review 2563: Reliability, Microelectronics Manufacturing course.
Final exam review 2563: Reliability, Microelectronics Manufacturing course.
CookRIT Cook Microelectronics Fabrication Center
Anritsu Microelectronics Fabrication Center, conveniently located south of Silicon Valley in Morgan Hill, CA, includes an 8000 square foot class 100/10000 clean ...
AnritsuCompany Reducing tin whisker related failures in electronics
Loughborough University has developed nanotechnology to help a range of industry sectors increase the reliability of high value and safety critical electronics.
Loughborough University
Егор Петров
Microelectronics and reliability : An international journal. Vol.12, №2. В произведении показывается роль транзисторов в сохранении присутствия кислорода в структуре композиции, описываются различия в составе широко применяемых компонентов для создания устойчивых резонансных частот
Прикрепить файл
Похожие книги
Азат Нагирян
Microelectronics and reliability : An international journal. Vol.12, №2. В произведении описываются некоторые аспекты надёжности микроэлектронных устройств (МЭУ), а именно: 1) надёжность электронных компонентов в зависимости от условий их эксплуатации при изготовлении МЭУ; 2) надёжность ЭРЭ в процессе его жизненного цикла; 3) анализ причин отказов ЭРЭ по результатам испытаний МЭУ. Приведены статистические данные по отказам МЭУ в процессе эксплуатации по материалам ОАО «Ангстрем» и ОАО «Исток», полученные с использованием математического аппарата теории надежности.
Прикрепить файл