Метрологическое обеспечение электрофизических установок : Обзор ОГ-46
1964
Краткое содержание:
Экранизация книги

Метрологическое обеспечение электрофизических установок : Обзор ОГ-46

Автор:
Арсеньев В.А.
Год:
1982
Язык:
Русский
Страниц:
119
Описание:
Арсеньев В.А. Метрологическое обеспечение электрофизических установок : Обзор ОГ-46 / В.А. Арсеньев, В.А. Беляков, И.М. Бондаренко и др. - Л. : НИИЭФА, 1982. - 119 с. : граф. ; 22 см. - Библиогр. в конце глав
Рейтинг по отзывам:
4.5
Рубрики:
Примечания:
В надзаг.: Гос. ком. по использ. атом. энергии СССР, НИИ электрофиз. аппаратуры им. Д.В. Ефремова . - Библиогр. в конце глав
Дата создания:
2019-11-16 13:23:51
Соц. сети:
Помогите сайту стать лучше, ответьте на несколько вопросов про книгу:
Метрологическое обеспечение электрофизических установок : Обзор ОГ-46
Это классическая или современная книга?
Классика
Современная
Не знаю

Мойка листов, чистка, отбеливание, устранение заломов, восстановление разрывов, следов от влаги, травление насекомых, реставрация обложки и корешка, устранение укусов от собак и восстановление заломов на картоне, восстановление после падений, восстановление тиснения и рисунков, художественная покраска всех элементов обложки от мастеров Ленинской библиотеки. Мелкий ремонт (удаление пятен, плесени) или реставрацию обложки, уголков, корешка, листов, переплета книги

Показать контакты
Объявление о покупке (разыскивается книга)
Объявление о продаже
Принимаются только объявления о покупке книги.
Внимание, объявления модерируются администрацией.
Принимаются только объявление о продаже книги.
Внимание, объявления модерируются администрацией.
Егор Петров
Метрологическое обеспечение электрофизических установок : Обзор ОГ-46. В книге описывается практика проведения операций при температуре ниже 750 градусов по Цельсию – она очень коротка по многим причинам, и недостаточно точна, чтобы можно было пользоваться
Прикрепить файл
Похожие книги
Азат Нагирян
Метрологическое обеспечение электрофизических установок : Обзор ОГ-46. В книге описывается современное состояние и перспективы развития метрологического обеспечения производства электронно-оптических преобразователей изображения на основе полупроводниковых материалов, а также оптических систем с использованием полупроводниковых лазеров. Даётся оценка погрешности измерений основных параметров электронно-оптического преобразования и оптических систем, рассмотрены вопросы повышения точности измерений.
Прикрепить файл