Библиотека №27
Чуйская область, Сокулукский район, с. ДжалГагарина, 4
0
0
2096
Electron and optical beam testing of electronic devices : Proc. of the Third Europ. conf. on electron a. optical beam testing of electronic devices, Sept. 1-3, 1993, Zürich, Switzerland
Год:
1994
Язык:
Английский
Страниц:
441
Заглавие серии:
Microelectronic engineering ; Vol. 24 N 1/4 [0167-9317]
Описание:
Electron and optical beam testing of electronic devices : Proc. of the Third Europ. conf. on electron a. optical beam testing of electronic devices, Sept. 1-3, 1993, Zürich, Switzerland / Ed. by A. Birolini et al. - Amsterdam etc. : Elsevier, 1994. - XIII, 441 с. : ил. ; 26 см. - (Microelectronic engineering ; Vol. 24 N 1/4 [0167-9317]). - Библиогр. в конце докл.
Рейтинг по отзывам:
4.5
Материалы:
Рубрики:
Электронные приборы → Испытание → Съезды, совещания и т. п.
Примечания:
Библиогр. в конце докл.
ББК:
З85-07ся431
Другие ответственные лица:
Birolini, Alessandro → Редактор; Birolini, Alessandro
Дата создания:
2020-12-27 13:42:43
Соц. сети:
Важно
Пожалуйста, помогите актуализировать информацию
Загрузить фотографию актуальной обложки книги
Дополнить или обновить информацию о книге
