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Rüdenauer, Friedrich G.

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Rasterelektronenmikroskopie höchster Auflösung
1972
Rüdenauer Friedrich G.
2943
0
SIMS Untersuchungen der Kontamination von Flüssigmetall-Emitterspitzen durch metallische Verunreinigungen : Arbeitsbericht
1993
Rüdenauer Friedrich G., Steiger Wolfgang, Fehringer Michael
742
0
A numerical method for the calculation of image aberrations of inhomogeneous magnetic sector fields between conical pole faces
1965
Rüdenauer Friedrich G., Viehböck F. P.
2741
0
Aspekte zur qualitativen und quantitativen Analyse in der sekundärionenmassenspektrometrie : Vortrag gehalten beim 6. Kolloquium über metallkundliche Analyse, Wien, 23-25 Okt. 1972
1973
Rüdenauer Friedrich G.
2768
0
Modellüberlegungen zur Kontamination von Flüssigmetall-Ionenemittern : Arbeitsbericht
1993
Rüdenauer Friedrich G.
2853
0
Results on a UHV-ion microprobe for surface and trace analysis
1974
Rüdenauer Friedrich G.
1201
0
A comparison between quadrupole and magnetic mass spectrometers for use in SIM : Vortrag, gehalten auf der Konferenz über "Vakuuminstrumente und- methoden in Oberflächenforschung". 10.-13.7.1972, Univ. of Surrey/England
1972
Rüdenauer Friedrich G.
1500
0
On the use of the Saha-Eggert equation for quantitative SIMS-analysis using argon primary ions
1975
Rüdenauer Friedrich G.
1049
0
Microanalysis with a quadrupole ion microprobe
1979
Rüdenauer Friedrich G., Steiger Wolfgang, Kraus Uwe
2432
0
LOGION : Der Betrieb von Flüssigmetall-Ionenmittern unter Schwerelosigkeit : Arbeitsber
1992
Rüdenauer Friedrich G.
2183
0
Metallic glasses of the type Fe₈₀B₁₇X₃ : A SIMS study
1981
Riedel Miklós, Gnaser Hubert, Rüdenauer Friedrich G.
2245
0
Gas scattering as a limit to partial sensitivity : Vortrag gehalten am 5. Intern. Vakuumkongreß 11.-15. Okt. 1971, Boston/USA
1973
Rüdenauer Friedrich G.
1325
0
Quantitative evaluation of secondary - ion micrographs
1979
Rüdenauer Friedrich G., Steiger Wolfgang, Werner Helmut
1044
0