0
0
2107
Анализ ключевых характеристик методов локальной диагностики полупроводников-метода наведенного рентгеновским пучком тока и рентгеновского флуоресцентного метода : автореф. на соиск. уч. степ. к. ф.-м. н. : специальность 01.04.07 <Физика конденсированного состояния> ; специальность 05.27.01 <Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника на квантовых эффектах>
Автор:
Шабельникова Яна Леонидовна
Год:
2013
Язык:
Русский
Страниц:
26
Коллекции:
Авторефераты
Описание:
Шабельникова Я.Л. Анализ ключевых характеристик методов локальной диагностики полупроводников-метода наведенного рентгеновским пучком тока и рентгеновского флуоресцентного метода : автореф. на соиск. уч. степ. к. ф.-м. н. : специальность 01.04.07 <Физика конденсированного состояния> ; специальность 05.27.01 <Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника на квантовых эффектах> / Шабельникова Яна Леонидовна; [Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова]. - Москва, 2013. - 26 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 24-26 (15 назв.)
Рейтинг по отзывам:
4.5
Материалы:
Рубрики:
–
Примечания:
Библиогр.: с. 24-26 (15 назв.)
ББК:
32.85
Скачать:
Просмотр и скачивание в формате PDF
Дата создания:
2021-10-22 05:52:49
Соц. сети:
Важно
Пожалуйста, помогите актуализировать информацию
Загрузить фотографию актуальной обложки книги
Дополнить или обновить информацию о книге
