0
0
1850
Фундаментальные основы анализа нанопленок
Авторы:
Альфорд Терри Л
Фельдман Леонард К
Майер Джеймс В
Фельдман Леонард К
Майер Джеймс В
Год:
2012
isbn:
978-5-91522-225-9
Язык:
Русский
Страниц:
390
Заглавие серии:
Фундаментальные основы нанотехнологий . Лучшие зарубежные учебники
Описание:
Альфорд Т. Л., Фельдман Л. К., Майер Д. В. Фундаментальные основы анализа нанопленок / Терри Л. Альфорд, Леонард К. Фельдман, Джеймс В. Майер; пер. с англ.: А.Н. Образцов, М.А. Долганов науч. ред. рус. изд.: д.ф.-м.н., проф. А.Н. Образцов [МГУ им. М.В. Ломоносова, Науч.-образоват. центр по нанотехнологиям]. - Москва : Научный мир, 2012. - 390 с. : ил. ; 25 см. - (Фундаментальные основы нанотехнологий . Лучшие зарубежные учебники). - Библиогр. в конце гл.
Рейтинг по отзывам:
4.5
Материалы:
Рубрики:
Тонкие пленки
Примечания:
Загл. и авт. ориг.: Fundamentals of nanoscale film analysis / Terry L. Alford, Leonard C. Feldman, James W. Mayer . - Библиогр. в конце гл.
Дата создания:
2021-11-08 03:04:29
Соц. сети:
Важно
Пожалуйста, помогите актуализировать информацию
Загрузить фотографию актуальной обложки книги
Дополнить или обновить информацию о книге
