Обзоры по электронной технике. Вып.764 : Использование текстовых структур для анализа причин брака и оценки надежности БИС
2687
Краткое содержание:
Экранизация книги

Обзоры по электронной технике. Вып.764 : Использование текстовых структур для анализа причин брака и оценки надежности БИС

Авторы:
Лашевский Р.А.
Рабкина Н.В.
Год:
1980
Язык:
Русский
Связанные заглавия:
Серии: ; Обзоры по электронной технике
Коллекции:
Русская периодика
Заглавие серии:
... . ... ; Вып.764 1980, Вып.4
Описание:
Лашевский Р.А., Рабкина Н.В. Обзоры по электронной технике / М-во электронной пром-сти СССР. Ин-т "Электроника". Вып.764: , Использование текстовых структур для анализа причин брака и оценки надежности БИС / Р.А. Лашевский, Н.В. Рабкина. - 1980. - (... . ... ; Вып.764 1980, Вып.4)
Рейтинг по отзывам:
4.5
Рубрики:
Дата создания:
2020-04-23 19:24:46
Соц. сети:
Помогите сайту стать лучше, ответьте на несколько вопросов про книгу:
Обзоры по электронной технике. Вып.764 : Использование текстовых структур для анализа причин брака и оценки надежности БИС
На каком языке книга?
Русский
Английский
Немецкий
Китайский
Японский
Испанский
Французский
Португальский
Арабский
Другой
Не знаю

Мойка листов, чистка, отбеливание, устранение заломов, восстановление разрывов, следов от влаги, травление насекомых, реставрация обложки и корешка, устранение укусов от собак и восстановление заломов на картоне, восстановление после падений, восстановление тиснения и рисунков, художественная покраска всех элементов обложки от мастеров Ленинской библиотеки. Мелкий ремонт (удаление пятен, плесени) или реставрацию обложки, уголков, корешка, листов, переплета книги

Показать контакты
Объявление о покупке (разыскивается книга)
Объявление о продаже
Принимаются только объявления о покупке книги.
Внимание, объявления модерируются администрацией.
Принимаются только объявление о продаже книги.
Внимание, объявления модерируются администрацией.
Егор Петров
Обзоры по электронной технике. Вып.764 : Использование текстовых структур для анализа причин брака и оценки надежности БИС. В книге описывается , как алгоритмы дают точную статистику ( в основном благодаря использованию очередных fillows) относительно множества возможных неисправностей, возникающих в программном
Прикрепить файл
Похожие книги
Азат Нагирян
Обзоры по электронной технике. Вып.764 : Использование текстовых структур для анализа причин брака и оценки надежности БИС. В книге описывается
Прикрепить файл