0
0
2176
Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии : Автореф. дис. на соиск. учен. степ. к.ф.-м.н. : Спец. 01.04.01
Автор:
Савин Владислав Олегович (канд. физ.-мат. наук)
Год:
2002
Язык:
Русский
Страниц:
15
Коллекции:
Авторефераты
Описание:
Савин В. О. Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии : Автореф. дис. на соиск. учен. степ. к.ф.-м.н. : Спец. 01.04.01 / Савин В.О.; [МГУ им. М.В. Ломоносова]. - М., 2002. - 15 с. : ил. ; 20 см. - Библиогр.: с. 13-15 (12 назв.)
Рейтинг по отзывам:
4.5
Материалы:
Рубрики:
–
Примечания:
Библиогр.: с. 13-15 (12 назв.)
ББК:
34.96
Скачать:
Просмотр и скачивание в формате PDF
Дата создания:
2020-12-25 21:12:05
Соц. сети:
Важно
Пожалуйста, помогите актуализировать информацию
Загрузить фотографию актуальной обложки книги
Дополнить или обновить информацию о книге
