Математическое моделирование токов утечки в ячейках памяти канавочного типа
1053
Краткое содержание:
Экранизация книги

Математическое моделирование токов утечки в ячейках памяти канавочного типа

Автор:
Леонов Андрей Игоревич
Год:
1994
Язык:
Русский
Страниц:
24
Заглавие серии:
Сообщения по прикладной математике
Описание:
Леонов А.И. Математическое моделирование токов утечки в ячейках памяти канавочного типа / Рос. акад. наук. ВЦ. - М. : ВЦ РАН, 1994. - 24 с. : ил. ; 20 см. - (Сообщения по прикладной математике). - Библиогр.: с. 24
Рейтинг по отзывам:
4.5
Рубрики:
Примечания:
Библиогр.: с. 24
Дата создания:
2020-01-17 14:24:07
Соц. сети:
Помогите сайту стать лучше, ответьте на несколько вопросов про книгу:
Математическое моделирование токов утечки в ячейках памяти канавочного типа
Вам эта книга понравилась?
Да.
Нет.
Возможно.
Не знаю

Мойка листов, чистка, отбеливание, устранение заломов, восстановление разрывов, следов от влаги, травление насекомых, реставрация обложки и корешка, устранение укусов от собак и восстановление заломов на картоне, восстановление после падений, восстановление тиснения и рисунков, художественная покраска всех элементов обложки от мастеров Ленинской библиотеки. Мелкий ремонт (удаление пятен, плесени) или реставрацию обложки, уголков, корешка, листов, переплета книги

Показать контакты
Объявление о покупке (разыскивается книга)
Объявление о продаже
Принимаются только объявления о покупке книги.
Внимание, объявления модерируются администрацией.
Принимаются только объявление о продаже книги.
Внимание, объявления модерируются администрацией.
Егор Петров
Математическое моделирование токов утечки в ячейках памяти канавочного типа. В данной книге описывается процесс, который представляет собой последовательный перенос по цепи связей канавочных импульсов с одной процедуры анализа на другую.
Прикрепить файл
Похожие книги
Азат Нагирян
Математическое моделирование токов утечки в ячейках памяти канавочного типа. В данной книге описывается математический аппарат для моделирования токов утечки и потерь электрической энергии при возникновении электрического пробоя межслойной изоляции в многослойных диэлектрических слоях памяти и БИС. Приводится классификация классов электрических пробоев межслойных соединений и анализ их влияния на работу электронных схем. Книга адресована студентам высших учебных заведений, а также инженерам, аспирантам и научным сотрудникам, интересующимся вопросами анализа и синтеза электронных схем и систем.
Прикрепить файл