Математическое моделирование токов утечки в ячейках памяти канавочного типа
1039
Краткое содержание:
Экранизация книги

Математическое моделирование токов утечки в ячейках памяти канавочного типа

Автор:
Леонов Андрей Игоревич
Год:
1994
Язык:
Русский
Страниц:
24
Заглавие серии:
Сообщения по прикладной математике
Описание:
Леонов А.И. Математическое моделирование токов утечки в ячейках памяти канавочного типа / Рос. акад. наук. ВЦ. - М. : ВЦ РАН, 1994. - 24 с. : ил. ; 20 см. - (Сообщения по прикладной математике). - Библиогр.: с. 24
Рейтинг по отзывам:
4.5
Рубрики:
Примечания:
Библиогр.: с. 24
Дата создания:
2020-01-17 14:24:07
Соц. сети:
Помогите сайту стать лучше, ответьте на несколько вопросов про книгу:
Математическое моделирование токов утечки в ячейках памяти канавочного типа
На каком языке книга?
Русский
Английский
Немецкий
Китайский
Японский
Испанский
Французский
Португальский
Арабский
Другой
Не знаю

Мойка листов, чистка, отбеливание, устранение заломов, восстановление разрывов, следов от влаги, травление насекомых, реставрация обложки и корешка, устранение укусов от собак и восстановление заломов на картоне, восстановление после падений, восстановление тиснения и рисунков, художественная покраска всех элементов обложки от мастеров Ленинской библиотеки. Мелкий ремонт (удаление пятен, плесени) или реставрацию обложки, уголков, корешка, листов, переплета книги

Показать контакты
Объявление о покупке (разыскивается книга)
Объявление о продаже
Принимаются только объявления о покупке книги.
Внимание, объявления модерируются администрацией.
Принимаются только объявление о продаже книги.
Внимание, объявления модерируются администрацией.
Егор Петров
Математическое моделирование токов утечки в ячейках памяти канавочного типа. В данной книге описывается процесс, который представляет собой последовательный перенос по цепи связей канавочных импульсов с одной процедуры анализа на другую.
Прикрепить файл
Похожие книги
Азат Нагирян
Математическое моделирование токов утечки в ячейках памяти канавочного типа. В данной книге описывается математический аппарат для моделирования токов утечки и потерь электрической энергии при возникновении электрического пробоя межслойной изоляции в многослойных диэлектрических слоях памяти и БИС. Приводится классификация классов электрических пробоев межслойных соединений и анализ их влияния на работу электронных схем. Книга адресована студентам высших учебных заведений, а также инженерам, аспирантам и научным сотрудникам, интересующимся вопросами анализа и синтеза электронных схем и систем.
Прикрепить файл