0
0
2289
Теоретические основы определения области локализации свечения в тонком слое методом туннельной рефрактометрии
Авторы:
Охонин Виктор Александрович
Кудрявцева О.А.
Кудрявцева О.А.
Год:
1989
Язык:
Русский
Страниц:
23
Заглавие серии:
Препринт / АН СССР. Сиб. отд-ние, Ин-т физики им. Л.В. Киренского ; № 101Б
Описание:
Охонин В.А., Кудрявцева О.А. Теоретические основы определения области локализации свечения в тонком слое методом туннельной рефрактометрии. - Красноярск : ИФ, 1989. - 23 с. : граф. ; 21 см. - (Препринт / АН СССР. Сиб. отд-ние, Ин-т физики им. Л.В. Киренского ; № 101Б). - Библиогр.: с. 23
Рейтинг по отзывам:
4.5
Материалы:
Рубрики:
–
Примечания:
Библиогр.: с. 23
Дата создания:
2021-08-05 08:47:29
Соц. сети:
Важно
Пожалуйста, помогите актуализировать информацию
Загрузить фотографию актуальной обложки книги
Дополнить или обновить информацию о книге
