Косвенные методы измерений статических характеристик металлов : Автореферат дис., представл. на соискание ученой степени кандидата технических наук
894
Краткое содержание:
Экранизация книги

Косвенные методы измерений статических характеристик металлов : Автореферат дис., представл. на соискание ученой степени кандидата технических наук

Автор:
Тылевич Исай Наумович
Год:
1961
Язык:
Русский
Страниц:
23
Описание:
Тылевич И.Н. Косвенные методы измерений статических характеристик металлов : Автореферат дис., представл. на соискание ученой степени кандидата технических наук / Ком. стандартов, мер и измер. приборов при Совете Министров СССР. Всесоюз. науч.-исслед. ин-т метрологии им. Д.И. Менделеева. - Ленинград, 1961. - 23 с. : черт. ; 21 см
Рейтинг по отзывам:
4.5
Рубрики:
Дата создания:
2020-02-12 03:58:55
Соц. сети:
СопроМат часть 1 Лекция 0 Лабораторные исследования характеристик
В лекции рассказано о лабораторных исследованиях материалов при определении их механических харктеристик.
Сопромат и прочее
Помогите сайту стать лучше, ответьте на несколько вопросов про книгу:
Косвенные методы измерений статических характеристик металлов : Автореферат дис., представл. на соискание ученой степени кандидата технических наук
Она устаревшая или актуальная?
Устарела
Актуальна
Не знаю

Мойка листов, чистка, отбеливание, устранение заломов, восстановление разрывов, следов от влаги, травление насекомых, реставрация обложки и корешка, устранение укусов от собак и восстановление заломов на картоне, восстановление после падений, восстановление тиснения и рисунков, художественная покраска всех элементов обложки от мастеров Ленинской библиотеки. Мелкий ремонт (удаление пятен, плесени) или реставрацию обложки, уголков, корешка, листов, переплета книги

Показать контакты
Объявление о покупке (разыскивается книга)
Объявление о продаже
Принимаются только объявления о покупке книги.
Внимание, объявления модерируются администрацией.
Принимаются только объявление о продаже книги.
Внимание, объявления модерируются администрацией.
Харитонов А.Ю. - Опыт применения в России испытаний грунтов сваями методом волновой теории удара
Опыт применения в России испытаний грунтов сваями методом волновой теории удара ХАРИТОНОВ Александр Юрьевич, главный инженер, ООО ...
AOZIS Ассоциация обследователей зданий и сооружений
Электрические измерения и электроизмерительные приборы
Преподаватель ОАТК
Александр Чирцов о пространстве, времени и предсказании будущего
Предыдущая лекция: https://youtu.be/BYXwPZ0ncc4 Хронометраж: 0:59 – О заинтересованных отзывах 8:27 – Что такое пространство и время 13:17 ...
Dmitry Puchkov
Тихоцкий: петрофизическое моделирование осадочных пород
17 мая 2017 года на ученом совете ИФЗ РАН был представлен доклад директора Института физики Земли чл.-корр. РАН Сергея Тихоцкого. Доклад ...
Товарищество Эта 4 Вебинар с НИИЖБ. Композитная арматура. Проектирование конструкций. Огнестойкость. Преднатяжение.
Четвертый из серии вебинаров, посвященных применению композитной арматуры в строительстве. Организован Научно-исследовательским ...
ХЭЛП Композит Куанышев М.К. - Метрология и измерение. Лекция №8
Куанышев М.К. Метрология и измерение Лекция №8 для ТТр-2.
techfac arsu Плотников Г. С - Элементы строения вещества - Флуктуации. Броуновское движение (Лекция 2)
0:31:23 1. Включение квантовомеханических особенностей в рассмотрение. Квантовые числа 0:45:04 2. Флуктуации 1:00:06 3. Демонстрация опыта ...
teach-in
Егор Петров
Косвенные методы измерений статических характеристик металлов : Автореферат дис., представл. на соискание ученой степени кандидата технических наук. В книге говорится о том, как по косвенным методам можно определить плотность металла.
Прикрепить файл
Похожие книги
Азат Нагирян
Косвенные методы измерений статических характеристик металлов : Автореферат дис., представл. на соискание ученой степени кандидата технических наук. В книге говорится о том, что в последние годы резко возрос интерес к исследованию и разработке методов и средств измерения параметров электрических и магнитных полей, вызванных процессами в полупроводниковых приборах и интегральных микросхемах. В условиях постоянно возрастающего уровня сложности интегральных микросхем, особенно при их изготовлении методом КМОП, проблема измерения и контроля параметров интегральных элементов приобретает все более важное значение.
Прикрепить файл