0
0
2807
Исследование структурно-химических параметров тонких пленок, наностеклокерамики и многослойных нанографитов методами спектроскопии комбинационного рассеяния света : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математческих наук : специальность 01.04.05 <Оптика>
Автор:
Ермаков Виктор Анатольевич
Год:
2011
Язык:
Русский
Страниц:
19
Коллекции:
Авторефераты
Описание:
Ермаков В. А. Исследование структурно-химических параметров тонких пленок, наностеклокерамики и многослойных нанографитов методами спектроскопии комбинационного рассеяния света : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математческих наук : специальность 01.04.05 <Оптика> / Ермаков Виктор Анатольевич; [С.-Петерб. гос. ун-т информ. технологий, механики и оптики]. - Санкт-Петербург, 2011. - 19 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 18-19 (7 назв.)
Рейтинг по отзывам:
4.5
Материалы:
Рубрики:
–
Примечания:
Библиогр.: с. 18-19 (7 назв.)
ББК:
22.34
Скачать:
Просмотр и скачивание в формате PDF
Дата создания:
2021-11-29 21:15:15
Соц. сети:
Важно
Пожалуйста, помогите актуализировать информацию
Загрузить фотографию актуальной обложки книги
Дополнить или обновить информацию о книге
