0
0
2991
ДИАГНОСТИКА микроэлектронных структур : Сб. ст.
Год:
1993
Язык:
Русский
Страниц:
112
Заглавие серии:
Труды ФТИАН / Рос. акад. наук. Физ.-технол. ин-т ; Т. 5
Описание:
ДИАГНОСТИКА микроэлектронных структур : [Сб. ст.] / Отв. ред. чл.-кор. РАН А.М. Афанасьев. - М. : Наука, 1993. - 112 с. : ил. ; 24 см. - (Труды ФТИАН / Рос. акад. наук. Физ.-технол. ин-т ; Т. 5). - Библиогр. в конце ст.
Рейтинг по отзывам:
4.5
Материалы:
Рубрики:
–
Примечания:
Библиогр. в конце ст.
Другие ответственные лица:
Афанасьев, А.М. → Редактор
Дата создания:
2021-05-25 13:27:52
Соц. сети:
Важно
Пожалуйста, помогите актуализировать информацию
Загрузить фотографию актуальной обложки книги
Дополнить или обновить информацию о книге
