0
0
579
Статистическое регулирование технологических процессов по альтернативному признаку (метод учета дефектов) : Методика : Проект
Год:
1972
Язык:
Русский
Страниц:
45
Редакция:
2-я ред.
Описание:
Статистическое регулирование технологических процессов по альтернативному признаку (метод учета дефектов) : Методика : Проект / [Науч. руководитель: канд. техн. наук Бендерский А.М.]; Гос. ком. стандартов Совета Министров СССР. Всесоюз. науч.-исслед. ин-т стандартизации. - 2-я ред. - Москва : Б. и., 1972. - 45 с. ; 20 см
Рейтинг по отзывам:
4.5
Материалы:
Рубрики:
–
Примечания:
На обороте тит. л. исполнители: канд. экон. наук Богатырев А.А., Шкотт З.Н., Филиппов Ю.Д., Воробьева В.К.
Другие ответственные лица:
Шкотт, З.Н. → Прочие; Филиппов, Ю.Д. → Прочие; Богатырев, А.А. → Прочие; Бендерский, А.М. → Прочие; Воробьева, В.К. → Прочие
Дата создания:
2021-06-04 15:02:59
Соц. сети:
Важно
Пожалуйста, помогите актуализировать информацию
Загрузить фотографию актуальной обложки книги
Дополнить или обновить информацию о книге
