0
0
1001
Formation and annealing of defects in N-type silicon under combined gettering
Автор:
Bagraev Nikolaj Tajmurazovič
Год:
1990
Язык:
Английский
Страниц:
36
Заглавие серии:
Preprint / Acad. of sciences of the USSR, A. F. Ioffe phys.-techn. inst. ; 1493
Описание:
Bagraev N. T., Nikolaj Tajmurazovič, Bagraev N. T., Nikolaj Tajmurazovič Formation and annealing of defects in N-type silicon under combined gettering / N. T. Bagraev, L. E. Klyachkin, A. M. Malyarenko et al. - L. : ФТИ, 1990. - 36 с. : ил. ; 20 см. - (Preprint / Acad. of sciences of the USSR, A. F. Ioffe phys.-techn. inst. ; 1493). - Библиогр.: с. 35-36
Рейтинг по отзывам:
4.5
Материалы:
Рубрики:
Кремний → Дефекты → Отжиг
Примечания:
На обороте тит. л.: Генерация и отжиг дефектов при совмещенном геттерировании в кремнии П-типа/ Баграев Н. Т. и др. . - На обл. надзаг. на рус. яз. . - Рез. на рус. яз. . - Библиогр.: с. 35-36
ББК:
З843.322.408
Автор (ред., сост., организация):
Bagraev, Nikolaj Tajmurazovič
Дата создания:
2021-02-17 14:34:39
Соц. сети:
Важно
Пожалуйста, помогите актуализировать информацию
Загрузить фотографию актуальной обложки книги
Дополнить или обновить информацию о книге
