0
0
2721
Метод определения толщины "мертвого слоя" полупроводниковых детекторов
Автор:
Усиков Ю.И.
Год:
1981
Язык:
Русский
Страниц:
13
Заглавие серии:
АН СССР, Институт космических исследований ; Пр-666
Описание:
Усиков Ю.И. Метод определения толщины "мертвого слоя" полупроводниковых детекторов / Ю.И. Усиков, В.В. Темный, И.В. Эстулин, В.И. Стрижак. - М. : ИКИ, 1981. - 13 с. : ил. ; 29 см. - (АН СССР, Институт космических исследований ; Пр-666). - Библиогр.: с. 12
Рейтинг по отзывам:
4.5
Материалы:
Рубрики:
–
Примечания:
Библиогр.: с. 12
Дата создания:
2021-05-24 04:03:02
Соц. сети:
Важно
Пожалуйста, помогите актуализировать информацию
Загрузить фотографию актуальной обложки книги
Дополнить или обновить информацию о книге
